Laser przestrajalny
Strojenie 160 nm w jednym laserze, prędkość 0,5–200 nm/s, szerokość linii <100 kHz i SMSR ≥45 dB. Przemiatanie bez przeskoków modów do pomiarów tłumienia i PDL.
Rozwiązanie · laboratorium i produkcja
Charakteryzacja elementów pasywnych, testy laserów i weryfikacja torów WDM w jednym stanowisku. Laser przestrajalny jako źródło, analizator widma optycznego jako oko, miernik długości fali jako wzorzec — komplet do R&D i kontroli produkcji.
Realia pomiarowe
Charakteryzacja komponentu optycznego to pomiar tłumienia, strat wtrąceniowych, izolacji czy SMSR z rozdzielczością liczoną w pikometrach. Historycznie oznaczało to referencyjny analizator widma z najwyższej półki cenowej — sprzęt, którego cena zamyka pojedyncze laboratorium uczelniane czy dział jakości mniejszego producenta.
W praktyce dobrze zestrojone stanowisko potrzebuje trzech elementów, które muszą ze sobą rozmawiać: przestrajalnego źródła o wąskiej linii, analizatora widma o odpowiedniej rozdzielczości i dynamice oraz wzorca długości fali do kalibracji. Do tego tłumik zmienny, gdy trzeba kontrolować budżet mocy przy pomiarze.
Portfolio Deviser pokrywa całe widmo pracy — od UV po średnią podczerwień, od 350 do 2400 nm — przy parametrach wystarczających dla telekomunikacji i produkcji, a przy tym z jawną wyceną i doradztwem po polsku. To realna ścieżka do przetargu uczelni czy instytutu, gdzie o wyniku decyduje spełnienie parametrów przy rozsądnej cenie.
Scenariusz 01 · elementy pasywne
Filtry WDM, sprzęgacze, izolatory, siatki Bragga: pomiar charakterystyki spektralnej metodą przestrajania. Laser przemiata pasmo, analizator rejestruje odpowiedź, tłumik trzyma poziom, a miernik długości fali potwierdza dokładność.
Strojenie 160 nm w jednym laserze, prędkość 0,5–200 nm/s, szerokość linii <100 kHz i SMSR ≥45 dB. Przemiatanie bez przeskoków modów do pomiarów tłumienia i PDL.
Uniwersalny OSA telekomunikacyjny: rozdzielczość od 0,02 nm, czułość do −90 dBm, tryby WDM/Laser/EDFA. Rejestracja odpowiedzi spektralnej badanego elementu.
Regulacja 0–60 dB z krokiem 0,01 dB, powtarzalność <±0,1 dB i ORL >45 dB — kontrola poziomu mocy na wejściu badanego komponentu.
Dokładność ±0,2 ppm (±0,3 pm @ 1550 nm), rozdzielczość 0,1 pm. Wzorzec do kalibracji lasera i weryfikacji długości fali podczas przemiatania.
Scenariusz 02 · źródła i lasery
Widmo emisji, SMSR, stabilność i długość fali — od laserów telekomunikacyjnych, przez źródła UV-VIS-NIR, po lasery średniej podczerwieni 2 µm. Wysoka rozdzielczość pokazuje strukturę modową, a nie tylko obwiednię piku.
Rozdzielczość od 0,01 nm i dynamika do 78 dB w zakresie 800–1650 nm — rozdzielenie sąsiednich kanałów DWDM i podgląd struktury modowej lasera.
Krótkie fale: lasery medyczne i biofotoniczne, sensoryka, analiza składu materiałów. Kalibracja laserem He-Ne 633 nm, dynamika close-in 60 dB.
Średnia podczerwień i SWIR: lasery przemysłowe 2 µm, sensoryka środowiskowa, biofotonika. Wejście free-space dla maksymalnej sprawności sprzężenia.
Ta sama rodzina pasm O/S/C/L/U/E w mniejszej obudowie, moc wyjściowa >+15 dBm i rozdzielczość ustawiania 0,1 pm — źródło referencyjne dla testów transmisji.
Scenariusz 03 · systemy WDM i EDFA
Analiza kanałów, OSNR, tłumienia wzmocnionej emisji spontanicznej i przesłuchów międzykanałowych. Wysoka dynamika pozwala odróżnić sygnał od szumu bez zgadywania, a wielokanałowy miernik długości fali potwierdza siatkę ITU-T.
Dynamika 78 dB (±1,0 nm od piku), dokładność długości fali ±0,01 nm i analiza sygnałów modulowanych 10G+ — pomiar OSNR i przesłuchów w gęstej siatce.
Maks. moc wejściowa +20 dBm/kanał i dedykowane tryby WDM/EDFA — pomiar charakterystyk wzmacniaczy bez zewnętrznego tłumienia, na linii i w laboratorium.
Jednoczesny pomiar do 1024 długości fal, separacja od 5 GHz — pewna identyfikacja kanałów DWDM i kontrola dryfu w torach wielokanałowych.
Dlaczego Deviser
Powiedz nam, jakie komponenty i w jakim paśmie testujesz — dobierzemy zestaw OSA, lasera i akcesoriów, a jeśli trzeba, wskażemy model spoza tej listy, który pasuje lepiej.